XOS-Signal單波長(zhǎng)X熒光硅含量分析儀，XRF包裹支撐樣品膜

 XOS-Signal單波長(zhǎng)X熒光硅含量分析儀，XRF包裹支撐樣品膜

美國(guó)Chemplex是X射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF）備件耗材領(lǐng)域的生產(chǎn)廠(chǎng)家。Chemplex公司生產(chǎn)的XRF樣品杯和樣品膜廣泛應(yīng)用于適用于以下等各品牌的X射線(xiàn)X熒光XRF光譜儀樣品膜

麥拉膜，預(yù)切圓片膜，薄膜樣品支撐框等等。材質(zhì)有Etnom• Prolene• Mylar• Polypropylene• Zythene• Ultra-polyeter• Kaption • Microporous"

XOS   Sindie®, Clora, Signal, HD Maxine, Phoebe, Peta，Sindie 3rd Generation

Horiba SLFA Units，6100/6800/60A，Mesa 7220

Bruker S2 Puma，S2 Puma w/ Xflash，S2 Ranger，S4，S8 w/ Flex Loader，S8 Tiger

Innov-X Hand Held Units

Oxford Lab-X，MDX，Replacement Cells 54-LX6922，Replacement Cells & Covers: 54-CK-100，Replacement Cells & Covers: 54-CK-100 and L242 Holder

Malvern Panalytical Epsilon 3XL, MiniPal，Axios，Epsilon 5，Venus 200

Rigaku Mini-Z，Primus, Rix, ZSX-100

Spectro XEPOS, Xepos Low S, Xepos IQ, X-Lab 2000, 200, 200T Titan, Phoenix，IQ，Phoenix II，Scout

Thermo Advant'x

Xenemetrix X-Calibur, X-Cite

XRF 樣品杯和薄膜樣品支撐窗是 XRF 光譜法容納和分析樣品的基本必需品。從表面上看，該過(guò)程似乎相對(duì)簡(jiǎn)單。將薄膜貼在新樣品杯的一端，引入樣品并將其插入 X 射線(xiàn)機(jī)中進(jìn)行元素分析。

選擇合適的薄膜樣品支撐窗主要是基于滿(mǎn)足主要的重要實(shí)驗(yàn)室要求：

• 使用方便

• 避免污染

• 樣品的耐化學(xué)性

• 分析物線(xiàn)透射率和強(qiáng)度

所提供的信息包括所提供的薄膜的主要包裝形式、各種類(lèi)型的薄膜、評(píng)估適當(dāng)薄膜以分析物線(xiàn)百分比透射率和樣品化學(xué)侵蝕抵抗力的方法。實(shí)驗(yàn)室關(guān)注的其他問(wèn)題可能包括樣品重量保留強(qiáng)度、壓差條件下的性能、積分時(shí)間、激發(fā)電勢(shì)和相關(guān)的熱量產(chǎn)生。

使用便利性和避免污染嘗試制備具有樣品支撐窗口的樣品杯時(shí)分配和處理薄膜是令人沮喪的、不方便的并且是污染源。這是由于薄膜固有的靜電荷產(chǎn)生靜電粘附。薄膜往往會(huì)粘在任何周?chē)奈矬w和人身上。這種現(xiàn)象可能會(huì)污染薄膜并影響 X 射線(xiàn)分析數(shù)據(jù)。

隨著 SpectroMembrane ®樣品支撐載體框架的出現(xiàn)，薄膜不會(huì)因處理或吸引空氣中的顆粒而產(chǎn)生令人討厭的靜電吸附或潛在的污染風(fēng)險(xiǎn)。除樣品杯外，薄膜絕不會(huì)與其他任何物體緊密接觸。薄膜 處理是通過(guò)使用集成載體框架來(lái)執(zhí)行的，該載體框架在組裝過(guò)程中自動(dòng)分離，留下繃緊的薄膜樣品平面。

光譜線(xiàn)的透射率 薄膜的透射率特性是計(jì)量厚度、密度和組成化學(xué)元素的質(zhì)量衰減系數(shù)的函數(shù)。上面的分析物線(xiàn)透射率圖表和照片可能有助于為給定的分析樣品選擇正確的薄膜。簡(jiǎn)單地指樣品中具有能量 KeV 或最長(zhǎng)波長(zhǎng) ? 的元素的譜線(xiàn)。然后選擇透射率百分比最高的曲線(xiàn)。最后使用圖例來(lái)確定哪種材料和厚度。

耐化學(xué)性在選擇為感興趣的元素分析物系列提供高％透射率值的薄膜的同時(shí)，評(píng)估樣品的耐化學(xué)腐蝕性是一個(gè)適當(dāng)?shù)目紤]因素。液體樣品通常比其他樣品形式更容易發(fā)生薄膜降解和破裂。請(qǐng)參閱“薄膜物質(zhì)的耐化學(xué)腐蝕性"表。

對(duì)薄膜物質(zhì)的完整性具有同等影響的其他因素包括：

• 積分時(shí)間 - 延長(zhǎng)分析時(shí)間

• 激發(fā)電位 - 強(qiáng)烈的 X 射線(xiàn)照射

• 熱量產(chǎn)生 - 來(lái)自樣品和 X 射線(xiàn)源

強(qiáng)烈建議在實(shí)際使用之前對(duì)薄膜物質(zhì)進(jìn)行審慎的測(cè)試和評(píng)估，以避免分析過(guò)程中的意外事故以及對(duì) X 射線(xiàn)儀器的潛在損壞以及昂貴的后續(xù)清理。

“選擇 XRF 薄文件樣品支撐窗口主要基于以下要求。 

• 避免污染

• 耐化學(xué)性

• 分析物線(xiàn)

• 使用便利性"

Chemplex 可根據(jù)您的要求提供不同類(lèi)型、不同尺寸和格式的 XRF 薄膜

• Etnom
• Prolene
• Mylar
• Polypropylene
• Zythene
• Ultra-polyeter
• Kaption 
• Microporous"

如需詳細(xì)咨詢(xún)請(qǐng)聯(lián)系我們